北京大学半导体测试技术研究中心依托于北京大学集成电路学院和上海交通大学微电子学院，致力于半导体工艺、器件和芯片的测量表征相关技术的研发和服务。
随着半导体工艺进入纳米级，在对半导体器件和芯片进行电学特征测量时，需要考虑到各种深亚微米乃至纳米级物理效应对测量结果的影响。同时，多种芯片的工作频率也进入GHz或更高。这些技术进步对半导体工艺、器件和芯片的测量表征技术提出了更高的要求，本中心即是要致力于解决相关技术问题。
同时，本中心也提供半导体相关测试服务、可靠性相关分析和芯片设计服务、及其他客户需求的定制化服务，相关服务具体内容请参考对外服务一栏。
